雙面量測探針台

使用手動或半自動測試配置,可以在單個晶片上對完整晶圓執行PS4L的雙面測試。 PS4L可以同時探測多種組合,包括上面,底側或兩側,並支持手動或可編程操縱器和探針卡的組合。 操縱器和探針卡可以單獨放置或一起放置在被測設備(DUT)的任一側。 定制晶圓載具可用於單晶片,部分晶圓或帶固定夾具的晶圓,以確保易用性和穩定性。也可藉由積分球,增加雙面探測器的靈活性使其成為一系列光電應用的理想選擇,包括水平邊發射激光二極管(EELD)和垂直腔表面發射激光二極管(VCSEL)測試。