RF元件量測探針台

SemiProbe高頻探測解決方案能提供廣泛的應用測量範圍從DC到300GHz。 測試許多不同類型的高頻組件需要專門的測量系統設計的組件包括chuck – standard and thermal, manipulators, probe arms, probes, calibration substrates, calibration software, cables, tuner modules and test
instrumentation. 此探針台包刮手動,半自動或全自動系統,其系統可以通過PILOT控制軟件進行增強,以簡化測試設備和自動化測試套件。