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用於吸收環境帶來的振動, 提供穩定的下針。

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適用於晶片、晶圓、研發驗證、封裝前測試等

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適用於雙面設計之晶片、晶圓，也可應用於研發驗證、封裝前測試

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穩定測試系統, 保護設備避免受震動衝擊影響測試結果

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