Probe Station Dual - HonestCo Electric

成功案例

產品與服務

最新消息

RF小學堂

品牌故事

聯繫我們

射頻元件

概覽

校正與驗證

探針

同軸電纜

轉接頭

量測配件

探針台

概覽

晶圓級探針台

雙面探針台

模組化探針台

微調座

顯微鏡

防震模組

系統集成

單晶微波積體電路

技術支援

概覽

技術團隊

儀器維修

探針台

PROBE STATION

探針台

PROBE STATION

雙面探針台

>>操作說明書下載

/ 特點

待測物平台尺寸 750 mm x 700 mm , 具備可滑動功能, 使用壓板式固定
正面可量測範圍, 四周邊緣向內 20 mm
反面可量測範圍, 四周邊緣向內 50 mm
提供直流(DC)與射頻(RF)版本選擇, 東西南北四向下針
探針台尺寸 W x D x H 3200 mm x 1600 mm x 2000 mm

/ 配置

此機型探針台配置移動輪與固定支撐腳
標配 2 um 精密微調座
搭載可滑動軸顯微鏡, HDMI影像輸出, 高亮度可調式LED光源

雙面探針台

/ 特點

待測物平台尺寸 750 mm x 700 mm , 具備可滑動功能, 使用壓板式固定
正面可量測範圍, 四周邊緣向內 20 mm
反面可量測範圍, 四周邊緣向內 50 mm
提供直流(DC)與射頻(RF)版本選擇, 東西南北四向下針
探針台尺寸 W x D x H 3200 mm x 1600 mm x 2000 mm

/ 配置

此機型探針台配置移動輪與固定支撐腳
標配 2 um 精密微調座
搭載可滑動軸顯微鏡, HDMI影像輸出, 高亮度可調式LED光源

晶圓級探針台

適用於晶片、晶圓、研發驗證、封裝前測試等

雙面探針台

適用於雙面設計之晶片、晶圓，也可應用於研發驗證、封裝前測試

模組化探針台

高度訂製化、

靈活可擴展的半導體測試設備

配件

包括電子顯微鏡、精密微調座與防震模組

晶圓級探針台
適用於晶片、晶圓、研發驗證、封裝前測試等

雙面探針台
適用於雙面設計之晶片、晶圓，也可應用於研發驗證、封裝前測試

模組化探針台
高度訂製化、靈活可擴展的半導體測試設備

微調座
精密的定位和調節設備

顯微鏡
電子顯微鏡搭配大螢幕視野, 增加量測舒適度

防震模組
穩定測試系統, 保護設備避免受震動衝擊影響測試結果

關於誠意

首頁

最新消息

RF小學堂

品牌故事

成功案例

品牌與服務

射頻元件

探針台

系統集成

技術支援

追蹤我們

誠如金石，意若善水，精勤向上

電話：+886 2 2791 5064 ( 臺北 )

Email ：sales@honestco.com.tw

地址：台北市内湖區潭美街533號19樓

Copyright © 2024 誠意實業有限公司 All rights reserved.

Private Policies 隱私權條款

關於誠意

首頁

最新消息

RF小學堂

品牌故事

成功案例

品牌與服務

射頻元件

探針台

系統集成

技術支援

聯繫我們

電話：+886 2 2791 5064 ( 臺北 )

Email ：sales@honestco.com.tw

地址：台北市内湖區潭美街533號19樓

追蹤我們

誠如金石，意若善水，精勤向上

Copyright © 2024 誠意實業有限公司 All rights reserved.

Private Policies 隱私權條款