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/ 特點

  • 模組化設計, 可添加多種配件
  • 訂製待測物平台, 可互換Chuck與治具
  • 內建防震系統

/ 配置

  • 不鏽鋼基座搭配鋁合金設計
  • 配置絕緣材質PCB治具
  • 滑塊手動與氣動操作功能兼容，可鎖定或釋放滑塊
  • 標配一對帶磁性底座的微調座
  • 顯微鏡焦距40X~230X / 55X~300X, 150mm工作距離(可選配)
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晶圓級探針台
適用於晶片、晶圓、研發驗證、封裝前測試等

雙面探針台
適用於雙面設計之晶片、晶圓，也可應用於研發驗證、封裝前測試

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高度訂製化、靈活可擴展的半導體測試設備

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電子顯微鏡搭配大螢幕視野, 增加量測舒適度

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穩定測試系統, 保護設備避免受震動衝擊影響測試結果

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包括電子顯微鏡、精密微調座與防震模組

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