跳至主要內容
成功案例
產品與服務
最新消息
RF小學堂
品牌故事
聯繫我們
搜尋
RF測試用元件
RF校正與驗證
RF探針
RF Cable
RF Adaptors 轉接頭
Flann高頻量測配件
RF量測/測試治具與配件
探針台
概覽
晶圓級探針台
雙面探針台
模組化探針台
微調座
顯微鏡
防震模組
MMICs
MMIC HPA & GaN Power Bar
Package & Final Test
Package
Final Test
技術支援
概覽
技術團隊
儀器維修
案例分享
產品與服務
RF測試用配件
探針台
MMICs
Package & Final Test
技術支援
最新消息
RF小學堂
品牌故事
聯繫我們
人員招募
搜尋
RF測試用配件
RF校正與驗證
RF探針
RF Cable
RF Adaptors 轉接頭
Flann高頻量測配件
RF量測/測試治具與配件
探針台
概覽
晶圓級探針台
雙面探針台
模組化探針台
微調座
顯微鏡
防震模組
MMICs
MMICs
MMIC HPA & GaN Power Bar
Package & Final Test
Package
Final Test
技術支援
概覽
技術團隊
儀器維修
RF探針在毫米波頻段下應用廣泛,核心目標主要能夠
精準定位量測,傳輸高頻訊號,同時將損耗降至最低。
RF探針在毫米波頻段下應用廣泛,
核心目標主要能夠精準定位量測,
傳輸高頻訊號,同時將損耗降至最低。
設計要點
針尖製程 (MEMS / Cantilever)
結構設計 (單訊號 / 雙訊號 / 多訊號 / 探針卡)
使用頻率 (DC / RF / DC & RF)
針尖間距 (25um~)
同軸接頭角度 (Angle / Verticle)
基本設計要點選擇,加入客製化選項,實現精準量測。
設計要點
針尖製程 (MEMS / Cantilever)
結構設計 (單訊號 / 雙訊號 / 多訊號 / 探針卡)
使用頻率 (DC / RF / DC & RF)
針尖間距 (25um~)
同軸接頭角度 (Angle / Verticle)
基本設計要點選擇,加入客製化選項,實現精準量測。
MEMS & CANTILEVER
單訊號探針 [ MEMS ]
雙訊號探針 [ MEMS ]
單訊號探針 [ CANTILEVER ]
雙訊號探針 [ CANTILEVER ]
多訊號&客制化
多訊號探針 [ DC ]
多訊號探針 [ RF ]
多訊號探針 [ DC + RF ]
多訊號探針卡
波導管探針 [ MEMS ]
可調式探針
MEMS & CANTILEVER
單訊號探針 [ MEMS ]
MEMS探針因其尺寸小、精度高、寄生效應低的特性,廣泛應用於射頻元件、天線、微波電路、RFIC等的精密測量。
雙訊號探針 [ MEMS ]
MEMS探針因其尺寸小、精度高、寄生效應低的特性,廣泛應用於射頻元件、天線、微波電路、RFIC等的精密測量。
單訊號探針 [ CANTILEVER ]
Cantilever RF 探針為懸臂式結構,高接觸穩定性適合射頻、微波、毫米波等高頻應用中進行精密測量。
雙訊號探針 [ CANTILEVER ]
Cantilever RF 探針為懸臂式結構,高接觸穩定性適合射頻、微波、毫米波等高頻應用中進行精密測量。
多訊號&客制化
多訊號探針 [ DC ]
DC探針經常與探針台搭配使用,適合用於測量直流訊號和低頻訊號,應用於半導體元件、晶圓、集成電路測試等。
多訊號探針 [ RF ]
多訊號RF探針是針對現代射頻技術(如MIMO、5G、毫米波)所設計的高效測試工具,能夠同時測試多路RF訊號。
多訊號探針 [ DC + RF ]
DC & RF 探針是一種高效、功能齊全的測試工具,能同時測量直流和射頻訊號。它廣泛應用於先進的5G技術測試中。
多訊號探針卡
探針卡最主要的應用是在半導體晶圓測試階段,探針卡與晶圓接觸,對未封裝得晶片進行功能、性能和良率的檢查。
波導管探針 [ MEMS ]
波導管探針是一種專為高頻測試而設計的工具,尤其適用於 毫米波段的測量。訊號可由傳輸線傳遞到波導管。
可調式探針
可調式探針是一種可以根據測試需求進行微調的測試工具,利用本身結構和配置微調後,以適應不同的測點距離。
聯絡我們
聯絡我們